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激光扫描测头XC65Dx
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激光扫描测头XC65Dx

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激光扫描测头XC65Dx

  本品为速度、精度、使用便捷性实现高度平衡的最尖端机型。最适合需要短时间测量较大范围、且不希望降低精度的用途。扫描性能可达每秒20万点,且搭载了ESP算法,对于大型零件的光泽表面及有色差等的复合材料表面,也能在短时间内实现与CAD的对比。
  功能/特点
  ●搭载第四代ESP4技术,可实现稳定的点群采集
  ●既有每秒20万点的高速扫描性能,同时还可维持高精度
  ●内置新开发的测距导向装置和旋转支架,使用更方便



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